出展タイトル	表面・界面設計のためのナノ計測
出展者	福澤 健二 伊藤 伸太郎
所属	マイクロ・ナノ機械理工学専攻 （機械・航空宇宙工学科）
研究室ホームページ	http://ayame.fukuzawa.nuem.nagoya-u.ac.jp/
展示概要	・ナノ厚さ液体/固体膜およびナノ隙間のリアルタイム可視化技術：膜厚分解能0.1nm、面内分解能0.1μmを実現（エリプソメトリー顕微鏡） ・ナノスケールの摩擦力分布の二次元マッピング技術：独自の構造を有したマイクロプローブを開発し、 ｎΝオーダの摩擦力・荷重の分布を、nm分解能で高精度に定量化可能（マイクロメカニカルプローブ） ・ナノレオロジー計測技術：高感度な剪断断力測定法によりナノ厚さ液体膜、高分子表面、微小液滴を対象としたナノレオロジー計測を実現（ファイバーウォブリング法） ・分子レベルでの表面設計に向けた分子動力学シミュレーション（粗視化分子動力学シミュレーション）
キーワード	トライボロジー、レオロジー、コーティング、表面濡れ性、ナノ計測、潤滑、潤滑油、ナノインプリント