出展タイトル
表面・界面設計のためのナノ計測
出展者
福澤健二
伊藤伸太郎
所属
マイクロ・ナノシステム工学専攻
研究室ホームページ
展示概要
・ナノ厚さ液体/固体膜およびナノ隙間のリアルタイム可視化技術:膜厚分解能0.1nm,面内分解能(解像度)0.1μmを実現しました(エリプソメトリー顕微鏡)
・ナノスケールの摩擦力分布の二次元マッピング技術:独自の構造を有したマイクロプローブを開発し, nΝオーダの摩擦力・荷重の分布を,nm分解能で高精度に定量化可能としました(マイクロメカニカルプローブ)
・ナノレオロジー計測技術:高感度な剪断断力測定法によりナノ厚さ液体膜,高分子表面,微小液滴を対象としたナノレオロジー計測が可能です(ファイバーウォブリング法)
キーワード
機械・航空